共启“芯”未来_FIB专著首发，赋能先进制造、具身智能高质量发展

在工业制造向高精度智能化转型的背景下，《聚焦离子束失效分析》专著正式发布。该书由广电计量联合南京大学、中国科学技术大学等高校科研团队编撰，填补了国内FIB纳米加工技术领域实践性专业书籍的空白，系统解析了设备原理、制样工艺及典型案例，为从业者提供FIB技术实践指南。
4月25日，工业FIB发展研讨会在无锡举办，近百位行业专家围绕工业FIB应用方向展开探讨。会议指出，设备国产化研发、技术标准化及实操经验是推动FIB纳米加工技术规模化应用的三大关键挑战。广电计量提出将通过产学联合技术攻关，推动FIB技术从实验室向生产线转化，助力智能制造产业升级。
同期，广电计量与江南大学联合成立巨深智能产业先进技术创新应用研究院，聚焦AI算法与传统分析技术的融合。该研究院旨在突破FIB技术单点检测局限，构建覆盖芯片算法、系统装备全链条的智能诊断体系，响应国家关于巨深智能产业布局的战略部署。
与会专家强调，学术界与产业界需协同解决高端设备普及和技术规范问题，加速FIB技术成果转化。国营量子技术、复旦大学等机构代表分享了芯片失效分析方法及国产FIB设备研发进展，为行业提供可落地的技术升级路径。